恒温振荡培养箱（智能型控制） 振荡培养箱 型号：TC-HZQ―X100

一、产品介绍：
TC-HZQ―X100恒温振荡培养箱是我厂TC-HZQ系列产品中的一种，其结构为落地型双层立式。
二、性能与特点：
1、集恒温培养箱与振荡器于一体，既可静态培养、也可作动态培养，一机二用。
2、驱动机构为三维一体的偏三轮，具有旋转平稳、坚固耐用，尤其是截重性能好，对振荡板上的培养体放置无需平均。

（智能型控制） 振荡培养箱 型号：TC-HZQ―X100

3、采用LED的数字显示取代了以往的液晶屏显示;使得操作清楚、观察时一目了然。
4、控温采用PID温度补偿功能，减少了箱内的温度过冲和不必要的波动。
5、驱动电机采用特种的交流感应无刷电机，使用后故障少、寿命长。
6、外型美观，大型门并装有照明灯。
三、技术指标
1、振荡频率：50-260rpm
2、振 幅：26MM
3、控温范围：室温―50℃

（智能型控制） 振荡培养箱 型号：TC-HZQ―X100
4、显示方式：LED
5. 容积：100L
6、 大容量：250ml×32或500ml×18或1000ml×10
7、标准配置：上层配万能夹具、

（智能型控制） 振荡培养箱 型号：TC-HZQ―X100
下层配500ml×9
8、电源：AV200-240V 50HZ
9、外型尺寸：600X500X1050mm

产品名称：GJB 937-90 软磁材料直流测量装置 磁性材料测量仪 软磁直流测试系统 产品型号：FE-2100SD

GJB 937-90 软磁材料直流测量装置 磁性材料测量仪 软磁直流测试系统型号：FE-2100SD

FE-2100SD软磁材料直流测量装置    FE-2100SD软磁材料直流测量系统，自动测量软磁材料在静态（直流）条件下的基本磁化曲线和磁滞回线，准确测量起始磁导率μi、大磁导率μm、饱和磁感应强度Bs、剩磁Br、矫顽力Hc和磁滞损耗Pu等静态磁特性参数。   
    测试系统依照冲击法的测量原理，采用计算机控制技术和A/D、D/A相结合，以电子积分器取代传统冲击检流计，实现在微机控制下的模拟冲击法测量，*消除经典冲击法中因使用冲击检流计所带来的非瞬时性误差，提高了测量精度，为研究材料磁化过程机理提供可靠依据。  
适用标准  
  ● GB/T 13012-2008 软磁材料直流磁性能的测量方法  
● GJB 937-90 弱磁材料磁导率的测量方法  
● GJB 937-90 弱磁材料磁导率的测量方法  
● SJ/T 10281-91 磁性零件有效参数的计算  
● IEC 60404-4 软磁材料直流磁性能的测量方法  
● IEC 404-7 开路磁性材料矫顽力的测量方法 
产品特点： 
● 覆盖软磁材料所有直流磁特性参数的测量 
● 电源带自动退磁功能确保测试初始磁导率准确 
● 励磁电流自动切换档位，确保测试精度 
● 极低漂移的磁通计自动切换，确保测试卡的使用精度 
● 常规样品自动计算磁路长度和有效面积 
● 常规样品可根据样品尺寸自动按国标计算有效磁路长度Le和面积Ae 
● 解决了同类产品在测试低Br材料重复性不好的问题 
● 各项参数的测试重复性处水平 
● 可配置螺线管或磁导计满足开路样品的测量

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产品名称：SX1934D型二合一数字式四探针测试计 产品型号：SX1934D

 SX1934D型二合一数字式四探针测试计 
 产品说明 
SX1934D型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量，适用于半导体、太阳能行业的筛选。 
产品特点 
 　　仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点(自动调零)。可鉴别半导体PN类别。

详细参数

产品名称：高速振动球磨机 产品型号：MSK-SFM-3

高速振动球磨机 型号：MSK-SFM-3

SFM-3高速振动球磨机机能用干、湿两种方法球磨或混合粒度不同、材料各异的各类固体、悬浮液和糊膏，高速振动球磨机有一个偏心摆轴，在马达的高速运转时，罐体产生偏心摆动；带动整个支架上下振动，使得研磨过程在高速摆动和振动的三维空间中完成，大大提高了研磨的速度和效率。

技术参数