电子元器件温度循环试验箱-瑞凯仪器

电子元器件温度循环试验箱-瑞凯仪器

一、工作原理：

     通过器件从二个不同温度的储存箱中交替存放一个很短的时间，考验器件对温度循环的承受能力，也可以考核器件内部不同材料热膨胀系数的匹配情况。

二、主要用途：

      可靠性试验摸底，工艺试验。

三、试验仪器：

      冷槽：-55℃

      高温储存箱：3.5KW 0℃~300℃（温度可设定）

四、操作规范：

      1.常规产品规定每季度做一次周期试验，试验条件及判据采用或等效采用产品标准；新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。

      2.采用LTHD的抽样方法，在*次试验不合格时，可采用追加样品抽样方法或采用筛选方法重新抽样，但无论何种方法只能重新抽样或追加一次。

      3.若LTHD=10%，则抽22只，0收1退，追加抽样为38只，1收2退。抽样必须在0QC检验合格成品中抽取。

      4.要严格按照冷槽、高温储存箱“技术说明书”操作顺序操作：

           （1）把要做试验的样管用TVR6000综测仪或生产线测试仪进行测试并逐只记录；

           （2）把管子放在试验仪器中，重复下表所载温度循环10~100次。

五、试验条件及判据：

      （1）高储存温度必须在125℃以上；

      （2）低储存温度必须在-55℃；

      （3）判据样品22pcs时，0收1退。

六、注意事项：

1.放样品入高温箱要戴手套，以防烫手，并注意储存箱门关紧；

2.操作的顺序应按先低温后高温顺序进行循环。

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