产品展示
测量显微镜SGW-15J
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- 更新时间:
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- 联系方式:
- 北京伯乐生命科学发展有限公司上海办事处 (上海天崛电子科技有限公司)
- 2021-11-11 18:55:25
- 上海市
- 进口
- 1937
-
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【简单介绍】
【详细说明】
产品简介:
STA系列是一种*的多功能测试设备,可以广泛的应用于性能鉴定试验环境中进行各种产品和材料测试。STA系列可以完成超过15种不同的测试。
序号 名称 型号 说明
暂无相关数据
产品属性
型号:
特性:
价格:
备注:
主要特点
SGW-15J测量显微镜
适用范围
测量潜望镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围及广。
产品技术参数
性能指标:
测量工作台读数装置主要规格
X轴遇到测量范围50nm
Y轴遇到测量范围13nm
测量器分度值:0.01nm
测量台转动范围不限:NO limit
测量台刻度盘分度范围:0°~360°
测量台刻度盘之分度值:1°
测量台刻度盘游标读数示值:6’
测量精度:
仪器示值误差:± (4+L/15)μ m
仪器示值误差:包括测量误差和系统误差
STA系列是一种*的多功能测试设备,可以广泛的应用于性能鉴定试验环境中进行各种产品和材料测试。STA系列可以完成超过15种不同的测试。
序号 名称 型号 说明
暂无相关数据
产品属性
型号:
特性:
价格:
备注:
主要特点
SGW-15J测量显微镜
适用范围
测量潜望镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围及广。
产品技术参数
性能指标:
测量工作台读数装置主要规格
X轴遇到测量范围50nm
Y轴遇到测量范围13nm
测量器分度值:0.01nm
测量台转动范围不限:NO limit
测量台刻度盘分度范围:0°~360°
测量台刻度盘之分度值:1°
测量台刻度盘游标读数示值:6’
测量精度:
仪器示值误差:± (4+L/15)μ m
仪器示值误差:包括测量误差和系统误差
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