当前位置：深圳市金东霖科技有限公司>>测厚仪>>半导体美国BOWMAN X射线荧光膜厚测厚仪

半导体美国BOWMAN X射线荧光膜厚测厚仪

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号

品牌

厂商性质代理商

所在地深圳市

在线询价收藏产品

联系方式：张丹查看联系方式

更新时间：2017-11-23 01:52:09浏览次数：388次

联系我时，请告知来自食品机械设备网

产品分类 品牌分类

  测厚仪

二手

暂无信息

深圳市金东霖科技有限公司

经营模式：代理商

商铺产品：58条

所在地区：广东深圳市

联系人：张丹（销售）

询价 给他留言

产品简介

是一款可靠的采用X-射线荧光方法和*的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。

详细介绍

是一款可靠的采用X-射线荧光方法和*的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。

可应用于在线膜厚测量,测氧化物,SiNx,感光保护膜和半导体膜.也可以用来测量镀在钢,铝,铜,陶瓷和塑料等上的粗糙膜层. 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度.光干涉法是一种无损,精确且快速的光学薄膜厚度测量技术,薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。