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760CRT紫外可见分光光度计

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更新时间:2018-05-14 09:00:00浏览次数:451

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产品简介

760CRT紫外可见分光光度计
3年期产品质量国家监督抽查首年检测. 基本原理: ● 分光光度计分析法是基于不同分子结构的物质对电磁辐射选择性吸收而建立的分析方法。 ● 应用电磁辐射波谱区通常在200nm~1000nm为。 ● 采用微处理机控制技术,在紫外可见光谱区域内对物质作定性、定量分析,是常规实验室*的多

详细介绍

760CRT紫外可见分光光度计

760CRT紫外可见分光光度计

商品简述:

 

 通过2011-2013年度3年期产品质量国家监督抽查首年检测. 基本原理: ● 分光光度计分析法是基于不同分子结构的物质对电磁辐射选择性吸收而建立的分析方法。 ● 应用电磁辐射波谱区通常在200nm~1000nm为紫外可见分光光度计。 ● 采用微处理机控制技术,在紫外可见光谱区域内对物质作定性、定量分析,是常规实验室*的多用途分析仪器。 通过2011-2013年3年期产品质量国家监督抽查首年检测.

 

 

 

通过2011-2013年度紫外可见分光光度计3年期产品质量国家监督抽查首年检测。

 

 

 

特点:
● 采用*的全息闪耀光栅单色器,具有波长精度高,单色性好,杂散光低等优点。
● 超大屏幕带背光液晶显示器,测量数据一目瞭览。
● 采用微机测量系统,T-A转换精度高,并有自动调0%T和调*T,浓度因子设定、浓度直读。
● 测量读数准确性高,重现性好和稳定性佳。
● 可选配串行打印机和与软件UVWin7配合使用,拓展仪器的使用功能。
● UVWin7软件包(另购)。

 

 

 

主要技术指标:


● 波长范围;200nm~1000nm
● 波长zui大允许误差:±2nm
● 波长重复性:≤1nm
● 透射比zui大允许误差:±0.5%(T)(NBS930D测定)

● 透射比重复性:≤0.2%(T)
● 光谱带宽:4nm
● 杂散光:≤0.3%(T)(220nm处,以NaI测定,在360nm处,以NaNO2测定)

● 稳定性: 暗电流漂移:0.2%(T)/3min  亮电流漂移:0.5%(T)/3min

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