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薄膜膜厚测试仪

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更新时间:2018-12-28 10:13:28浏览次数:780

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产品简介

测量范围 0-2mm mm 电源电压 220V
类型 薄膜测厚仪 外形尺寸 450×340×390mm
显示方式 数显    
济南三泉中石实验仪器有限公司根据相关标准研发生产了薄膜膜厚测试仪CHY-U, 适用薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量,是一款超高测试误差的全自动测厚仪,测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位

详细介绍

三泉中石

    CHY-U薄膜膜厚测试仪除了具备高精度、高效率等特点外,还采用测量样品自动前进驱动系统,大大提高了测试效率,充分满足用户连续高效测试的要求,并配有专业软件支持,操作方便、人机交互友好。

 

<strong><strong>薄膜膜厚测试仪</strong></strong>

 

    一、结构组成
    CHY-U薄膜膜厚测试仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成,专业名称为测厚仪。测量系统对薄膜进行测量,并输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;打印输出系统的功能是统计结果的输出,打印试验结果。

 

    2、 功能原理
    CHY-U薄膜膜厚测量仪采用目前世界测量领域*的技术成果,确保测量结果的高精确性,多次测量结果的高度*性;且操作调试极其方便,几近于自动化操作,大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响;并具有手动、自动两种测量模式,对于手动模式测量,可打印输出测量结果,对于自动模式测量,可按照预先设置好的次数自动测试,并对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

 

    3、主要参数
    仪器型号:CHY-U
    其他名称:薄膜膜厚测量仪、薄膜测厚仪、薄膜厚度仪等
    测量范围:0-2mm (其他量程可定制)
    分辨率 :0.1um
    测量速度:10 次/分(可调)
    测量压力:17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)
    接触面积:50mm2(薄膜),200mm2(纸张)    注:薄膜、纸张任选一种
    进样步矩:0 ~ 1300 mm(可调)
    进样速度 :0 ~ 120 mm/s(可调)
    外形尺寸:450mm×340mm×390mm
    重量:23kg

 

    4、执行标准
    ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

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