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是德B2912A精密型电源

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更新时间:2021-07-06 21:50:27浏览次数:412

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产品简介

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是德B2912A精密型电源

详细介绍

Keysight(原Agilent) B2912A精密型电源主要特性与技术指标 JIANG


测量能力 
• 支持双通道配置 
• 小电源分辨率:1 pA/1 μV,小测量分辨率: 100 fA/100 nV 
• 大输出:210 V、3 A 直流/10.5 A 脉冲 
• 任意波形发生器和 20 μs 间隔的数字转化能力 

一般特性 
• 综合的 4 象限电源和测量能力 
• 4.3 英寸彩色显示屏支持图形和数字显示模式 
• 免费的应用软件有助于基于 PC 仪器的控制 
• 高吞吐量和 SCPI 命令支持传统 SMU 命令集 

Keysight(原Agilent) B2912A 描述 

Keysight(原Agilent) B2902A 精密型电源/测量单元(SMU)作为双通道、结构紧凑经济高效的台式 SMU,能够输出和测量电压和电流。可轻松地执行 I/V(电流 vs 电压)高精度测量。综合 4 象限电源和测量能力无需配置多个仪器即可轻松便捷地进行 I/V 测量。一台仪器即可提供广泛的 210 V、3 A 直流/10.5 A 脉冲,从而将用户的投资成本降至低。小的 100 fA/100 nV 测量分辨率可精确表征被测件。超大 4.3 英寸彩色显示屏和各种显示模式采用直观操作,大大提高了测试、调试和表征的效率。

Keysight公司B2901/02/11/12A精确源表单元,兼顾电压和电流的输出和测量能力;覆盖10 fA~3A(DC) / 10.5A (脉冲)的电流和从100nV - 210 V的电压范围,能够比以往更准确、快速地完成IV曲线测量。此外,B2900A系列提供直观的图形显示界面以及免费的测量软件,是快速、准确地表征场效应 晶体管(FET)特性的高性价比方案。

一般来说,场效应晶体管的评估需要提供恒定或扫描的不同电压、电流给栅极和漏极,以获得相应参数和特性。


B2902A和B2912A有两个SMU通道,每个通道都能精确地执行IV测量。这使B2902A、B2912A成为IV测试的选择。如下图所示,您可以很容易地测量三端FET器件。

快速和容易的IV特征曲线测试
常规设备评估器件的IV特性必须编写一个测试程序用于控制仪器能扫描输出及读回相应的测量值。B2900A系列源表有非常易用的用户界面,便于进行各种测试保存测量数据而无需编写任何代码。大屏幕液晶显示器支持多种查看模式:单一视图,双视图,图形视图和滚动视图(查看时间域测量)。完成测量后,可以使用图形视图观察结果:如IV曲线以及使用测量对话窗口显示测量结果的数据列表。前面板上的USB接口可以用来保存和加载测量设置以及保存测量结果。此外,图形视图也可保存屏幕图像生成JPEG文件,以便制作报告和演示。
测量能力 
• 支持双通道配置 
• 小电源分辨率:1 pA/1 μV,小测量分辨率: 100 fA/100 nV 
• 大输出:210 V、3 A 直流/10.5 A 脉冲 
• 任意波形发生器和 20 μs 间隔的数字转化能力 

一般特性 
• 综合的 4 象限电源和测量能力 
• 4.3 英寸彩色显示屏支持图形和数字显示模式 
• 免费的应用软件有助于基于 PC 仪器的控制 
• 高吞吐量和 SCPI 命令支持传统 SMU 命令集 

Keysight(原Agilent) B2902A 描述 

Keysight(原Agilent) B2902A 精密型电源/测量单元(SMU)作为双通道、结构紧凑经济高效的台式 SMU,能够输出和测量电压和电流。可轻松地执行 I/V(电流 vs 电压)高精度测量。综合 4 象限电源和测量能力无需配置多个仪器即可轻松便捷地进行 I/V 测量。一台仪器即可提供广泛的 210 V、3 A 直流/10.5 A 脉冲,从而将用户的投资成本降至低。小的 100 fA/100 nV 测量分辨率可精确表征被测件。超大 4.3 英寸彩色显示屏和各种显示模式采用直观操作,大大提高了测试、调试和表征的效率。

Keysight公司B2901/02/11/12A精确源表单元,兼顾电压和电流的输出和测量能力;覆盖10 fA~3A(DC) / 10.5A (脉冲)的电流和从100nV - 210 V的电压范围,能够比以往更准确、快速地完成IV曲线测量。此外,B2900A系列提供直观的图形显示界面以及免费的测量软件,是快速、准确地表征场效应 晶体管(FET)特性的高性价比方案。

一般来说,场效应晶体管的评估需要提供恒定或扫描的不同电压、电流给栅极和漏极,以获得相应参数和特性。


B2902A和B2912A有两个SMU通道,每个通道都能精确地执行IV测量。这使B2902A、B2912A成为IV测试的选择。如下图所示,您可以很容易地测量三端FET器件。

快速和容易的IV特征曲线测试
常规设备评估器件的IV特性必须编写一个测试程序用于控制仪器能扫描输出及读回相应的测量值。B2900A系列源表有非常易用的用户界面,便于进行各种测试保存测量数据而无需编写任何代码。大屏幕液晶显示器支持多种查看模式:单一视图,双视图,图形视图和滚动视图(查看时间域测量)。完成测量后,可以使用图形视图观察结果:如IV曲线以及使用测量对话窗口显示测量结果的数据列表。

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