Renishaw雷尼绍XM-60多光束激光干涉仪北京

Renishaw雷尼绍XM-60多光束激光干涉仪北京

Renishaw雷尼绍XM-60多光束激光干涉仪北京

只需一次设定即可在任意方向测量6个自由度！

*的技术、光学滚摆测量以及光纤发射器

XM-60是一款激光测量系统，只需一次设定即可沿线性轴同时测量6个自由度的误差。它具有强大的诊断工具，通过一次采集就可以测量轴的所有几何误差。

对于执行空间补偿的用户来说，XM-60为他们获得所需数据组提供了一种快速精准的方法。所有测量均为光学测量，可在任意方向执行。

主要特性与优点：

·快速 — 利用传统激光技术，一次安装即可同时测量线性、俯仰、

扭摆、滚摆、水平方向和垂直方向直线度。

·简单 — 设定简单，其他干涉仪系统使用者很快就能熟练使用。自

动检测轴的正负方向和图形准直减少了人为误差。

·可靠 — 直接测量所有误差，允许用户在测试过程中查看结果。

·强大 — *的光学滚摆测量系统能够在任一方向执行滚摆测量。

概述

轻型发射器通过光导纤维远离发热的激光源，从而减少测量点处的热影响。发射器可直接通过其侧面甚至后面安装到机器上或者上下倒置安装，非常适用于难以接近的机器区域。

接收器可进行*无线操作，由充电电池供电，从而在机器移动中避免电缆拖拽，因为在测量过程中电缆拖拽可能会引起误差或激光束“断光”。

XM-60随附CARTO 2.0软件包，可指导用户完成测量过程。CARTO包括Capture（数据采集）和Explore（数据浏览）应用，可按照上各种主要标准提供数据采集和分析功能。

性能技术指标：

1、线性

测量精度：±0.5 ppm（使用环境补偿）

分辨率：1 nm

测量范围：0 m至4 m

2、角度（俯仰/扭摆）

精度：±0.006A ±(0.5微弧度 +0.1M微弧度)

(M = 测量的距离，单位：米)

(A = 显示的角度读数)

分辨率：0.03微弧度

测量范围：±500微弧度

3、直线度

测量精度：±0.01A ±2 μm

(A = 显示的直线度读数)

分辨率：0.25 μm

测量范围;250 μm（半径）

4、滚摆

精度：±0.01A ±9.1微弧度

(A = 显示的角度读数)

分辨率：0.5微弧度

测量范围：±500微弧度

注：精度值指标为95%的统计置信度 (k=2)。精度值不包括将材料温度归一化为20 °C时与其有关的误差。