X射线荧光材料分析及镀层测厚仪

德国FISCHER XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪可准确的确定镀层厚度，适合在生产线上检查大型零件(如飞机零件，管道或涡轮叶片)上的镀层。

德国FISCHER XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品简介：

德国FISCHER XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪作为一款手持式XRF分析仪，它非常适合在生产线上检查大型零件(如飞机零件，管道或涡轮叶片)上的镀层;与市场上其他便携式X射线荧光设备相比，FISCHERSCOPE XAN500可以准确地确定镀层厚度。它的三点支撑设计使其易于正确放置，并在整个测量过程中保持稳定。高质量的硅漂移检测器(SDD)确保了分析合金层(如锌镍合金)所需的精度。

但是，XAN 500不仅仅是一个用于大型零件的测量系统。借助可选的测量箱，只需几个简单的步骤即可将其转换为台式仪器。 这样您就可以快速、轻松地检查小零件，如螺母和螺栓。

德国FISCHER XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品特点：

通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行准确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。

重量1.9 kg

一次电池充电可持续运行6个小时

测量点：3毫米Ø

高分辨率硅漂移检测器

用于户外的IP54等级

用作台式设备的可选测量箱;

使用完整版WinFTM®软件进行数据统计

德国FISCHER XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品应用：

测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件

一次测试同时测定镀层的厚度和成分(例如，Fe上的ZnNi合金)

未知合金的无标准片测量

大型镀层零件(例如机器部件和外壳)的测量

电镀层的测试

电镀液金属含量的分析

德国FISCHER XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪技术参数：

1、环境要求：

使用时温度：10℃- 40℃

存储或运输温度：0℃- 50℃

空气相对湿度：≤95%，无结露

2、计算单元：

计算机：Windows操作系统的平板电脑

软件：标准:Fischer WinFTM BASIC包含PDM、可选:Fischer WinFTM SUPER

3、执行标准：

CE合格标准：EN 61010

X射线标准：DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批准：每台仪器都符合德国“Deutsche RontgenverordnungRaV"法规规定

4、通用规格：

设计用途：能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪，用来进行镀层测厚及材料分析。

元素范围：从元素硫(16)到铀(92)可同时测定24种元素。

形式设计：手持式仪器

测量方向：可变化的

5、X射线源：

X射线管：带镀窗口的钨靶射线管

高压，电流，功率：高压范围40kV、阳极电流范围10OuA、一般功率2W，范围4W内

孔径(准直器)：2mm

测量点尺寸：3mm

6、X射线探测：

X射线探测器：采用珀耳帖法冷却的硅漂移接收器(SDD)

能量分辨率：≤160ev

(Mn元素K 半高宽)

7、样品定位：

样品放置：手动

8、电气参数：

电池充电器：AC115-230V 50/60Hz

可充电电池：锂离子电池7.2V/6.2Ah

电池的使用时间：大约6小时

功率：范围20w

保护等级：IP54

9、尺寸规格：

外部尺寸(宽×深×高)：仪器:210 x 230 x75 mm、运输箱:630x 485x 225 mm

重量：仪器:大约1.9 kg、包含运输箱，可充电电池和平板电脑:大约11.5 kg