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X射线荧光镀层测厚仪及材料分析仪

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更新时间:2025-03-15 11:20:27浏览次数:43

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产品简介

德国FISCHER X-RAY XUL 220 X射线荧光镀层测厚仪及材料分析仪是一款性能好、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。

详细介绍

埃登威自动化-专业进口仪器供应商!我们提供丰富的仪器仪表种类、有竞争力的产品价格及良好的售后服务。

德国FISCHER X-RAY XUL 220 X射线荧光镀层测厚仪及材料分析仪是一款性能好、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。


德国FISCHER X-RAY XUL 220 X射线荧光镀层测厚仪及材料分析仪产品简介:

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 220是一款性能好、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件.上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样,本款仪器有着不凡的准确性以及长期的稳定性,这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

依靠FISCHER的基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。


德国FISCHER X-RAY XUL 220 X射线荧光镀层测厚仪及材料分析仪产品应用:

在小部件,如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

在连接器和电气元件上的测量

电镀液的溶液成分分析



我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑,如技术参数中英文有差异,以英文参数为准。

德国FISCHER X-RAY XUL 220 X射线荧光镀层测厚仪及材料分析仪技术参数:

通用规格

设计用途

能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF),

用于无损测量镀层厚度及分析材料成分

可测量元素范围

多时可同时测定从氯(17)到铀(92)中的24中元素

(使用选配的WinFTM®BASIC软件时)

形式设计

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

由上往下

X射线源

X射线管

热稳定钨靶射线管

高压

三档:30KV、40KV、50KV

孔径(准直器)

φ0.3mm;可选长方形0.3x0.05mm

基本滤片

固定

测量点尺寸

取决于测量距离和孔径大小,实际的量点大小与视频

窗口中显示的一致,较小测量点大小:约为φ0.51mm

X射线探测

X射线探测器

比例接收器

测量距离

0...25mm,使用受专有保护的DCM测量距离补偿法

样品定位

样品放置

手动

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头,可沿着初级X射线

光束方向,手动聚焦,对被测位置进行监控

十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)

可调节亮度的LED照明

图像放大倍率

40x~160x

计算单元

计算机

Windows®PC

软件

标准:FISCHER WinFTM®LIGHT

可选:FISCHER WinFTM®BASIC,PDM®,SUPER

工作台

形式设计

手动XY轴工作台

样品放置可用区域

310x320mm

X/Y轴工作台移动范围

30x40mm

样品很大重量

2KG

样品很高高度

174mm

电气参数

电源要求

交流220V,50HZ

功耗

很大120W(不包括计算机)

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸(宽x深x高)

403x588x444mm

重量

大约45KG

环境要求

使用时温度

10℃~40℃

存储或运输时温度

0℃~50℃

空气相对湿度

≤95%,无结露

执行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497和ASTM B 568

形式标准

作为受保护的仪器,

符合德国"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定


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