高Tc超导材料电阻—温度特性测量仪

高Tc超导材料电阻—温度特性测量仪用于高Tc超导材料的电阻－温度特性测量与处理，亦可用于其它样品电阻-温度特性测量。它由安装了样品的低温恒温器，测温、控温系统，数据采集、传输和处理系统以及计算机软件组成。可进行动态法测量，动态法测量时可分别进行不同电流方向的升温和降温测量，以观察和检测因样品和温度计之间的动态温差造成的测量误差以及样品及测量回路热电势给测量带来的影响。动态测量数据经本机处理后直接进入计算机软件进行显示、处理或打印输出。

高Tc超导材料电阻—温度特性测量仪特 点：

1.系统能够自动完成高Tc超导材料的电阻-温度特性的测量、控制、记录及数据处理全过程。

2.测量系统线路采用单片机设计，内有WATCHDOG电路，具有高可靠性及高抗干扰性能。

3.采用低漂移前置放大器和高分辨率高速采集芯片。

4.仪器采用一体化结构方便可靠。

5.重量轻，体积小，对实验环境要求低。

技术指标:

1.温度测量范围：77K~400K

2.温度测量分辨率：0.1K

3.电阻测量分辨率：0.1mΩ

4.控温精度:±0.5K

5.样品电流调节范围：1mA~100mA

6.样品电流分辨率：0.1mA