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昆山友硕新材料有限公司>>蔡司显微镜>>15850350764聚焦离子束扫描电子显微镜

聚焦离子束扫描电子显微镜

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参考价 300000
订货量 1
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 15850350764
  • 品牌 其他品牌
  • 厂商性质 代理商
  • 所在地 苏州市

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更新时间:2021-03-04 15:44:28浏览次数:432

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产品简介

蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)出色的成像和分析性能,和新一代聚焦离子束(FIB)优异的加工性能。无论是在科研或是工业实验室,您都可以在一台设备上实现多用户同时操作。得益于蔡司Crossbeam系列模块化的平台设计理念,您可以根据自己需求的变化随时升级仪器系统。在加工、成像或是实现三维重构分析时,Crosssbeam系列都将大大提升您的应用体验。

详细介绍

 蔡司 Crossbeam 340蔡司 Crossbeam 550
扫描电子束系统Gemini I VP 镜筒

Gemini II镜筒

可选Tandem decel

样品仓尺寸和接口标准样品仓有18个扩展接口标准样品仓有18个扩展接口或者加大样品仓有22个扩展接口
样品台X/Y方向行程均为100mmX/Y方向行程:标准样品仓100mm加大样品仓153 mm 
荷电控制

荷电中和电子枪

局域电荷中和器

可变气压

荷电中和电子枪

局域电荷中和器

 

可选选项

Inlens Duo探测器可依次获取SE/EsB图像

VPSE探测器

Inlens SE 和 Inlens EsB可同时获取SE和ESB成像

大尺寸预真空室可传输8英寸晶元

注意加大样品仓可同时安装3支压缩空气驱动的附件。例如 STEM, 4分割背散射 探测器和局域电荷中和器

特点由于采用了可变气压模式,从而具有更大范围的样品兼容性,适用于各类原位实验,可依次获取SE/EsB图像高效的分析和成像,在各种条件下保持高分辨特性,同时获取Inlens SE和Inlens ESB图像
  *SE 二次电子,EsB 能量选择背散射电子

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