ZEISS 蔡司SEM扫描电镜

德国蔡司推出了具有时代意义的蔡司扫描电镜 (SEM)-拉曼光谱联合平台系统，能够将样品的微观形貌、元素分析与分子结构、理化性质、结晶度及晶体缺陷信息相结合，为科研人员提供了一个全新的多维度分析平台。该平台可配置Witec、Renishaw、Horiba等多家拉曼光谱，为您提供个性化应用选择。

　　系统构成

　　蔡司扫描电子显微镜：是利用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过电子与样品相互作用产生二次电子、背散射电子、X射线等，对样品表面或断口形貌进行观察和分析的一种检测手段。借助附件能谱仪EDS或者波谱仪WDS可以获得分析区域的元素种类及其含量的定性信息。增加背散射电子衍射EBSD附件还可以获取晶体学取向信息。但是扫描电镜很难表征物质的化学结构。

　　拉曼光谱：是一种散射光谱，通过测定材料的分子键的振动频率，可以获得材料的化学与结构特点，例如官能团，对称群，点阵缺陷等，以及材料的结晶度等详细的信息。但是拉曼光谱往往借助光学显微镜用于观察样品及激光聚焦，受制于所用激光光源的波长(一般为紫外、可见光及近红外波段)，空间分辨率较低，对于一些结构复杂的样品难以分辨其中的不同的物相与颗粒。