当前位置：长春市海洋光电有限公司>>激光系列产品>>激光测试测量仪器>>激光系列产品-Hi-Q光学测试测量系统

激光系列产品-Hi-Q光学测试测量系统

参考价: ￥ 9000

订货量: ≥1 件

具体成交价以合同协议为准

产品型号F型

品牌其他品牌

厂商性质0

所在地长春市

在线询价收藏产品

联系方式：王雪查看联系方式

更新时间：2020-06-05 09:57:13浏览次数：254次

联系我时，请告知来自食品机械设备网

长春市海洋光电有限公司

经营模式：

商铺产品：200条

所在地区：吉林长春市

联系人：王雪（销售）

询价 给他留言

产品简介

简介：
美国OEwaves公司的HI-Q光学测试测量系统提供了*自动化地测量连续激光器或激光光源的超低相位噪声测量。这个光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声，评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构和参考激光即可作这样的窄线宽测量。

详细介绍

简介：

美国OEwaves公司的HI-Q光学测试测量系统提供了*自动化地测量连续激光器或激光光源的超低相位噪声测量。这个光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声，评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构和参考激光即可作这样的窄线宽测量。

该系统在宽带测量方面是低噪声参考激光光源。该系统操作简单、方便、快速、精度高，且无需附加额外的测试设备。这台超低相位/频率噪声分析仪可扩展到不同的输入波段，并用于低相对强度噪声测量。

特点：

▪ 超低相位/频率噪声测量

▪ 快速实时测量

▪ 即刻和扩展的FWHM线宽分析

▪ 不需要低噪声参考光源

▪ 用户友好界面

▪ 简单的基于PC的操作

▪ 3U x 19英寸机架系统

▪ 可定制的配置、升级和选项