奥林巴斯原装38DL PLUS超声波测厚仪

奥林巴斯原装38DL PLUS超声波测厚仪

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奥林巴斯超声波测厚仪38DL PLUS

■双晶与单晶探头

■坚固耐用，设计符合IP67标准

■厚度测量范围0.08毫米到635毫米

■彩色透反VGA显示

对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量

用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供各种频率、直径和接口类型的单晶探头。用户使用高分辨率软件选项可以进行分辨率

为0.001毫米的极其精确的厚度测量。

•对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

•在使用频率范围为2.25 MHz到30 MHz的单晶探头的情况下，高分辨率软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。

•高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

•多层软件选项可对多达4个不同层的厚度同时进行测量。

•测量厚度、声速或渡越时间。

•带有默认设置和自定义设置的自动调用应用简化了厚度测量操作。

高穿透软件选项

用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、纤维玻璃、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。

多层软件选项

这个软件选项计算并同时显示多达4个不同层的厚度测量值。这个功能还可显示所选各层的总厚度。典型的应用包括对塑料燃料箱中的阻挡层、瓶子的预成型坯及软性隐型眼睛进行的厚度测量。

主要特性

■可与双晶和单晶探头兼容。

■宽泛的厚度测量范围: 0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。

■使用双晶探头进行腐蚀测厚。

■穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。

■内部氧化皮/沉积物软件选项。

■对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

■使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。

■多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。

■高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

■厚度、声速和渡越时间测量。

■差分模式和缩减率模式。

■时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。

■带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。

■用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。

■设计符合EN15317标准

奥林巴斯原装38DL PLUS超声波测厚仪 技术规格

测量

双晶探头测量模式从激励脉冲后的精确延时到*个回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式

利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。

穿透漆层回波到回波测量模式在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式

模式1：激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。

模式2：延迟线回波与*个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。

模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时

间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。

氧化皮模式：可选。

多层模式：可选。

厚度范围0.080 mm～635.00 mm，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范围0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

分辨率（可选择）

低分辨率：0.1 mm

标准分辨率：0.01 mm

高分辨率（可选项）：0.001 mm

探头频率范围

标准：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）

高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）