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电子冷热冲击试验箱：验证车载芯片耐候性

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产品型号

品牌广东皓天检测仪器有限公司

厂商性质生产商

所在地东莞市

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更新时间：2025-05-23 10:49:59浏览次数：11次

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广东皓天检测仪器有限公司

经营模式：生产厂家

商铺产品：69条

所在地区：广东东莞市

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产品简介

电子冷热冲击试验箱：验证车载芯片耐候性在智能汽车飞速发展的当下，车载芯片作为汽车电子系统的 “大脑"，需在环境下稳定运行。电子冷热冲击试验箱专为验证车载芯片耐候性设计，通过模拟 - 70℃至 150℃的剧烈温度变化，配合快速温变技术与精准的环境控制，能够快速暴露芯片在高低温循环冲击下的潜在缺陷，如焊点开裂、材料热胀冷缩失效、电气性能衰退等问题，为车载芯片的研发、生产及质量管控提供可靠的数据支持。

详细介绍

电子冷热冲击试验箱：验证车载芯片耐候性

产品概述

在智能汽车飞速发展的当下，车载芯片作为汽车电子系统的 “大脑"，需在环境下稳定运行。电子冷热冲击试验箱专为验证车载芯片耐候性设计，通过模拟 - 70℃至 150℃的剧烈温度变化，配合快速温变技术与精准的环境控制，能够快速暴露芯片在高低温循环冲击下的潜在缺陷，如焊点开裂、材料热胀冷缩失效、电气性能衰退等问题，为车载芯片的研发、生产及质量管控提供可靠的数据支持，确保其在复杂多变的行车环境中具备可靠性与稳定性。

电子冷热冲击试验箱：验证车载芯片耐候性

测试流程

准备阶段：将车载芯片样品固定在试验箱内的样品架上，连接电性能测试设备，确保电气连接正常。

程序设置：根据测试需求，在控制系统中输入温度变化曲线、循环次数、驻留时间等参数，模拟车载芯片实际工作环境中的温度变化场景。

测试运行：启动试验箱，设备自动完成高低温环境的快速切换与稳定保持，实时监测并记录样品在测试过程中的温度变化及性能参数。

结果分析：测试结束后，通过专业分析软件对数据进行处理，结合芯片外观检查与性能复测，评估芯片在高低温冲击下的耐候性能，定位潜在失效点。

电子冷热冲击试验箱：验证车载芯片耐候性

核心优势

极速温变，高效测试：采用三箱式独立循环结构，实现温度的快速转换，转换时间最短可达 5 秒，大幅缩短测试周期，提高测试效率，满足企业对车载芯片快速验证的需求。

精准控温，数据可靠：配备高精度 PID 智能控制系统，温度控制精度可达 ±0.5℃，均匀度 ±2℃，确保测试环境的一致性与稳定性，为芯片耐候性评估提供精准可靠的数据。

模拟真实，场景全面：支持自定义多段式温度循环程序，可模拟车载芯片在严寒、酷暑、昼夜温差、引擎舱高温等多种复杂行车环境下的温度变化，全面验证芯片在实际应用中的耐候性能。

安全防护，稳定运行：具备超温保护、漏电保护、压缩机过载保护等多重安全防护机制，配合低噪音设计与环保制冷剂，在保障设备稳定运行的同时，确保操作人员安全与环境友好。

技术参数

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项目	参数
温度范围	-70℃ ～ 150℃
温度波动度	±0.5℃
温度均匀度	±2℃
升温速率	≥5℃/min（非线性空载）
降温速率	≥5℃/min（非线性空载）
冲击温度恢复时间	≤5min（空载）
试验箱容积	80L/150L/225L/408L/800L（可选）
电源要求	AC 380V ±10% 50Hz