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详细介绍
| {特性} ★查找失效电容、二权管、TTL或CMOS芯片，可控硅等。 ★采用离线测试，避免线路板带电测试时将导致的进一步损坏。 ★双输入通道（AB交替方式），可使使用者对损坏板元斯湾件与同型号完好元件进行比较分析； ★对于元件，仪器可提供专门的低电流交变信号，能过观察电压、电流牲响应，即可诊断元件坏与否； ★可调测试参数能够夺于元件的特征响应加以突出及衰减； ★ 不同参数范围允许操作者选择特殊的电压、电阻及频率组合，为各种特别元件的测试量身裁衣； ★通过改变量程参数，实现牲响应方位图差异手的聚集分析，例如调节电压量小于600MV，无源元件可在元连带半导体影响的条件下测试其特征响应： {技术规格} 测试频率：20Hz、50/60Hz、200Hz或2KHz 输出波形：正弦波 通道：双通道 输出电压：200MV、2V、5V、10V或15V 源 阻 抗：10，100，1K、10K或100欧姆 量程选择：自动扫描或手动 交替频率：０.5Hz～5Hz（可调） 过载保护：电子电流断路器 DC 电源：０～±5VDC（zui大50mA） 输入电压：220VAC 显 示：２.8英寸CRT | 产品图片 |
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