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Surfix FN分体式统计型涂层测厚仪

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更新时间:2017-07-22 15:35:47浏览次数:529

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产品简介

Surfix FN分体式统计型涂层测厚仪,测量范围:0~1500μm,分辨率:0.1um或小于读数的千分之二

详细介绍

分体式统计型
 
Surfix FN型适合所有金属基材上的测量
 
技术参数: 
测量原理
1
测量范围
误差
分辨率
显示
zui小面积
zui小曲率半径
1
zui小基体厚度
1
校准
数据统计
数据存储
报警
数据接口
环境温度/表面温度
电源
仪器尺寸
探头尺寸
重量
保护级别
符合标准
F性:电磁
N型:涡流
0~1500μm
±(1μm +3%)
0.1um或小于读数的千分之二
四位数LCD显示,背景光
5mm×5mm
凸面:3mm
凹面:50mm
F型:0.5mm
N型:50μm
厂家校准、零校准、标准箔校准
读数个数、平均值、标准偏差、zui大值和zui小值,zui多10,000个
zui多80个读数;统计数据
上下限可调,声音报警
红外通讯
0~50℃/150℃
两节5号电池,50小时寿命
140×62×30mm
Φ14×83mm
200g
IP52(防灰尘、防滴水)
DIN、ISO、ATSM、BS
 
标准配置
主机、 探头、 零板、 标准箔、 电池、 便携软包、 操作手册
 
可选配置
PC计算机用的红外线接收器便携式打印机(带红外接收器,Rs232,CENTRONICS)不同厚度的标准箔

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