CP200国产台阶膜厚仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电...

SuperViewW1国产白光干涉仪非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数。以...

CP系列微观表面台阶显微检测仪系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。

中图仪器VT6000共聚焦3D显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。主要采用3D捕获的成像技术，它通过数码相机针孔的高强度激光来实...

CP200中图国产台阶仪可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微...

CP200国产台阶仪品牌对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广...

chotest白光干涉三维轮廓仪让轮廓测量价格更为实惠，应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。适用于各种产品、...

VT6000系列共聚焦显微镜3D光学成像系统以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；在测量渐变较...

VT6000系列激光共聚焦形貌显微镜设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量.

SuperViewW1白光干涉表面形貌仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的...

SuperViewW1光学白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到...

白光干涉仪粗糙度仪以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微...

中图仪器SuperViewW1国产白光干涉仪是以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零...

中图仪器VT6000系列3D成像共聚焦显微镜以共聚焦技术为原理，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子...

中图仪器VT6000激光共聚焦显微镜，它以针孔共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，可广泛应用于半...

SuperViewW1白光干涉仪光学轮廓仪用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加...

VT6000激光共聚焦扫描显微镜以共聚焦技术为原理，在材料生产领域中，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度...