手持式四探针测试仪型号：M-3
M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
型号：M-3
4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
净 重：≤0.3kg
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
型号：M-3
量程（Ω-cm/□） | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
电阻测试范围 | 0.010～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～50.00k |
电阻率/方阻 | 0.010/0.050～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～20.00k/100.0k |
基本误差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | |||
电 阻： 0.010Ω ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω ～ 10 Ω
电 阻 率： 0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm
方块电阻： 0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等级
 | 产品名称：红外微波双鉴探测器 产品型号：DT-700 |
微波被动红外探测器 型号：DT-700
产品型号：DT-700
产品说明：
■K-波段微波,减少误报
■探测距离 11m x 12m
■精巧,薄的外观设计
■加强型微处理器处理技术
■电子温度补偿(双温度传感器：1微波和1PIR)
■自适应式探测门限处理技术
■的俯视区光路系统
■更快的捕获能力
■防虫光路系统
■细小的设计
产品参数：
型号DT-700DT-700PETDT-700ACT
探测距离11m×12m
微波频率10.525GHz
环境温度-10℃～50℃自适应自适应
防宠物30kG
安装室内
工作电压9.0～15.0V/DC
外观尺寸119mm×71mm×42mm
 | 产品名称：整箱抗压试验机 /压缩强度试验机 /硬质泡沫塑料压缩强度试验机 产品型号：TD-KY50 定制规格 500*500*500mm |
整箱抗压试验机/ 压缩强度试验机/ 硬质泡沫塑料压缩强度试验机 型号：TD-KY-50
产品概述
TD-KY系列纸箱抗压试验机是瓦楞纸箱以及与其相类似的包装容器抗压强度试验和堆码强度试验的大型试验设备。
试验机为机电一体化结构，主要由施力系统和测控系统两部分组成。
施力系统由交流伺服电机系统、机械减速系统、高精度丝杆传动系统和施力压板组成。
测控系统采用高精度传感器、主流的ARM芯片，具有强大的数据处理功能，测试过程自动跟踪，测试结果自动记录，实时显示测试数据和曲线，并可实现与电脑通讯。
试验机采用彩色触摸宽屏作为人机操作界面，菜单式界面，美观大方，全触摸操作，响应迅速。
产品性能稳定可靠，测量精度高，测试功能强大，操作简单快捷。
执行标准
ISO2872 包装—完整、满装的运输包装件—压力试验
ISO2874 包装—完整、满装的运输包装件—用压力试验机进行的堆码试验
GB4857.4 运输包装件基本试验—压力试验方法
主要技术参数
型 号 | TD-KY10 | TD-KY20 | TD-KY50 |
测量范围 | 0.1～10 kN | 0.2～20 kN | 0.5～50 kN |
分辨力 | 1 N | ||
示值误差 | ≤1.0 % | ||
试验空间 | 500×500×500 | 800×800×800 1000×1000×1000 可定制 | 1000×1000×1000 1200×1200×1200 可定制 |
压板平行度 | ＜（2×B/1000）mm B为压板长边尺寸 | ||
速度范围 | 2～100 mm/min 相对误差小于5% | ||
标准试验速度 | 堆码试验2 mm/min 抗压试验10mm/min | ||
工作电源 | AC220V±10% 50Hz | ||
 | 产品名称：数显维氏硬度计 产品型号：TDHVS-50 |
数显维氏硬度计 型号：TDHVS-50
TDHVS-50型数显维氏硬度计
该机采用无摩擦主轴，试验力精度高；数字式压痕自动测量系统；试验过程自动化，无人为操作误差；大型LCD液晶显示屏，菜单操作，功能齐全（数据处理、硬度转换等）；自动数字显示，无人为读数误差；随机打印机打印硬度测试结果；精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美国ASTM E92。
数显维氏硬度计主要应用范围
渗氮层、陶瓷、钢、有色金属；薄板、金属薄片、电镀层、微小试件；材料强度、热处理、碳化层、脱碳层和淬火硬化层的深度；应用范围广，特别适用于平行平面的精密测量。
数显维氏硬度计主要技术参数
测量范围：5-2900HV
试 验 力：9.807、49.03、98.07、196.1、294.2、490.3牛顿
(1、5、10、20、30、50公斤力)
试件允许Z大高度：180毫米 压头中心至机壁距离：125毫米
光学测微计放大倍数：125倍，50倍 Z小检测单位：0.5微米
电 源：交流220伏，50/60赫兹 外形尺寸：580 x 260 x 730毫米
重 量：约90千克
数显维氏硬度计主要附件
大平试台：1个 小平试台： 1个
V形试台： 1个 标准维氏压头：1只
标准维氏硬度块：3块
