使用蔡司高分辨率X射线显微镜Xradia 800 Ultra，可实现低至50 nm的空间分辨率，是基于实验室的X射线成像系统中较高的。 随着非破坏性3D成像在当今的突破性研究中发挥至关重要的作用，您将在基于实验室的超高分辨率系统中体验的性能。 创新的Xradia Ultra架构采用吸收和相位对比成像模式以及8 keV的X射线能量，采用同步加速器改造的*光学元件。 使用Xradia 800 Ultra，期望获得的原位和4D功能，用于研究材料随时间的演变，并扩展材料科学，生命科学，自然资源和各种工业应用中使用的X射线成像的极限。
亮点
蔡司高分辨率X射线显微镜Xradia 800 Ultra的分辨率高达50 nm，可让您深入了解以前无法通过传统实验室X射线技术获得的微观结构和工艺。 使用8 keV X射线进行操作可为各种材料提供出色的穿透力和对比度，使您能够观察其自然状态下的结构和材料。
蔡司高分辨率X射线显微镜Xradia 800 Ultra提供可靠的内部3D信息，否则只能通过横截面等破坏性方法访问。 大工作距离和大气样本环境使您可以轻松地进行原位研究。
优势
- 非破坏性3D X射线成像允许重复成像相同样品，允许直接观察微观结构演变
- 保持低至50nm的高分辨率用于原位装置内的样品成像
- 用于断层摄影重建的自动图像对准
- 可切换的视场范围从15到60μm
- 吸收和Zernike相衬成像模式
- 在您的实验室中开发，准备和测试您计划的同步加速器实验，以提高同步加速器光束时间的有效性
- 现在，Scout-and-Scan控制系统具有简单的基于工作流程的用户界面，非常适合*成像实验室，用户可以拥有各种各样的经验水平
