X-4B显微熔点仪 产品介绍
主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载波片——盖玻片法(热台法)测定。
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
温度显示zui小示值:0. 1℃
熔点观察方式:双目体视显微镜
光学放大倍数:40X~100X变倍
X-4B显微熔点仪 仪器简介:
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。
技术参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
| X-4 | X-4A | X-4B |
温度显示zui小示值 | 1℃ | 0.1℃ | 0. 1℃ |
熔点观察方式 | 单目显微镜 | 单目显微镜 | 双目体视显微镜 |
光学放大倍数 | 40X | 40X | 40X~100X变倍 |