精度高达 0.0002 毫米/0.000008 英寸的测量仪器可确保获得准确结果。DIATEST 已通过 DIN ISO 9001 认证。面向未来的制造技术（工业 4.0，...）、训练有素的精密工程技术人员和工程知识保证了高的质量标准。无论是标准解决方案还是客户特定解决方案，
DIATEST 测量仪器都以应对未来的任务浮动支架可补偿位置误差，例如在使用检查台或固定装置时或在机器中进行自动测量时。根据任务的不同，提供具有不同螺纹和附加功能（冲击安全反冲、空气供应……）的不同浮动支架。它们可以与分体式球探头、塞规BMD或多平面塞结合使用
DIATEST 测头
DIATEST 塞规测头
DIATEST 孔径测量仪
DIATEST两瓣头测头
DIATEST两瓣头
DIATEST孔径测量仪
DIATEST备件
diatest赛规侧头BMD-允许静态和动态测量
检测尺寸偏差和形状缺陷
作为直接在机器上钻孔的手动工具
安装在测量夹具和机器中
标准程序中有多种基本类型可供选择，并辅以有用的附件，确保可以精确测量当前实践中遇钻孔。其灵活的平台允许的应用：
标准孔和通孔：从 2.0 到 270 毫米，
盲孔测量（平底）：从 2,0 (T-BMD-FB) 到 150 mm，
外径测量：从 20 到 100 毫米，
多平面塞规：从 21 毫米，
内齿轮量规：从 10 mm 圆柱直径
3 点测量：从 8.0 到 100 毫米，
适用于 2.0 mm 至 3.0 mm 的极小直径
平行距离测量：从 1.0 (T-BMD-PA) 到 30 mm
特殊尺寸、形状和型号，例如锥形孔
测量范围的扩展或限制、测量压力的调整、气源……
重复性：
2 点设计 =< 1 µm
三点设计 =< 2 µm
diatest赛规侧头BMD-测量接触材料的选择取决于工件的成分和设计：
碳化物，
硬铬，
陶瓷制品，
红宝石，
塑料，
钻石。
机械或数字指示器DIATRON1000探头，包括测量柱DIATRON2200可用于显示结果 Multiplane BMD DIATRON MultiFire可以集成到DIAWIRELESS网络中。
诸如DIATRON6060-µNetwork之类的设备允许进行统计评估、集成到网络、机器控制等等。
diatest赛规侧头BMD-零位设置应使用设置主控器进行，例如根据 DIN 2250-C 规范的设置环。
快速维护和维修服务提供翻新和全面测试的塞规。通常不需要购买新的插头。BMD 可以经济地使用多年。
广泛的应用和简单的操作与高精度和坚固的设计相结合，证明了 BMD 系统的经济效率。根据要求提供特殊解决方案。
好的线性化——更高的测量确定性！
与来传统标准塞规相比，新开发的 DIATEST BMD XQ 减少了高达 50% 的线性偏差。
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