四探针电阻率测试仪价格 简介：
1、符合半导体材料电阻率的及国家标准测试方法。
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3、电阻率测量范围复盖zui常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）
方块电阻测量范围复盖zui常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）
4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；
整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。
7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。
四探针电阻率测试仪价格测量范围：
可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可测方块电阻：0.1～1999Ω/口
当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档
10mA量程：0.1～1mA 连续可调
10mA量程：1mA ～10mA连续可调
恒流精度：各档均优于±0.1%
适合测量各种厚度的硅片
（3） 直流数字电压表
测量范围：0～199.9mv
灵敏度：100μv
准确度：0.2%（±2个字）
（4） 供电电源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用环境：
相对湿度≤80%
（6） 重量、体积
重量：2.2 公斤
体积：宽210×高100×深240（mm）
（7）KD探针头
压痕直径：30/50μm
间距：1.00mm
探针合力：8±1N
针材：TC
产品关键词：四探针电阻率测试仪，四探针测试仪， 四探针电阻率测量仪
