渡层厚度检测仪 - Ux-720

一、渡层厚度检测仪Ux-720描述：

Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测J 仪，采用高分辨率的Si-PIN (或者SDD硅漂移探测器) ，测量精度和测量结果良好.采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检租金检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。|代表E氧分析仪|进口氧分析仪品牌|微量氧分析仪|价格|批发|厂家|Teledyne氧分析仪|AII氧分析仪|Southland氧分析仪|AMS氧分析仪|Ntron氧分析仪|恩特龙氧分析仪|AOI氧分析仪|ADV氧分析仪|AST氧传感器|仕富梅氧分析仪|Neutonics氧分析仪|HiTech氧分析仪|西门子氧分析仪|富士氧分析仪|Zirox氧分析仪处|办事处|子公司|分公司|总代理|代理商|北京办|上海办|广州办|中国分析仪

二、渡层厚度检测仪Ux-720特性：
Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便.

X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产晶的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中晶质的提升高了检验的保障.

Ux-720镀层测厚仪采用了华唯*新**技术FlexFp -Multi .不在受标准样昂的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样昂的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。

三、渡层厚度检测仪Ux-720产品指标：
测厚技术X射线荧光测厚技术
测试样晶种类金属镀层，合金镀层
测量下限0.003um
测量上限。30-50um (以材料元素判定)
测量层数。10层
测量用时30-120秒
探测器类型Si-PIN 电制冷
探测器分辨率145eV
高压范围: 0-50KV , 50W
X光筐参数: 0-50KV , 50W ，侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
虑光片专用3种自动切换，
CCD观察260万像素
微移动范围: XY15mm
输入电压AC220V , 50/60Hz
测试环境。非真空条件
数据通讯USB2 . 0模式
准直器:1mm ，2mm ，4mm
软件方法:FlexFP-M u Iti
工作区开放:工作区自定义

样品腔:330x360x100mm

其他产品：微量氧分析仪,药品残氧仪,露点仪,热导气体分析仪,GE流量计,OX-1氧传感器,顶空分析仪,红外气体分析仪,高温湿度仪,西门子U23分析仪,ppb微量水分析仪,OXY.IQ氧分析仪,烟气湿度仪,燃气热值仪,Kaye温度验证仪,L&W白度,仪激光氧分析仪,压缩空气露点仪,干燥机露点仪,激光气体分析仪,便携式露点仪,便携式微量氧分析仪