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可程式冷热冲击箱
二箱式芯片冷热冲击测试箱
二箱式芯片冷热冲击测试箱图片
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2024-11-02 07:38:10
106
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东莞市
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图片描述:
产品特点:二箱式芯片冷热冲击测试箱能模拟高温与低温之间的瞬间变化环境。从而判断产品的可靠性及稳定性能等参数是否合格。将提供给您预测和改进产品的质量和可靠性依据。用于检测电子、汽车、橡胶、塑胶、航太科技
图片来源:
https://www.foodjx.com/chanpin/7118651.html
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