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XS分析天平（超越系列）

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更新时间：2016-03-03 13:12:31浏览次数：281次

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上海君翼仪器设备有限公司

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产品简介

XS分析天平(超越系列)--采用高精度、高分辨率后置式传感器；全自动校准技术；变量程设计。

详细介绍

XS分析天平（超越系列）主要特点：

　□ 采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果

　□ 全自动校准技术（FACT），温度漂移及工厂时间设置触发的内置砝码自动校准和全自动线性校准，获得精确称量结果

　□ 变量程设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求

　□ 革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果

　□ 易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量

　□ 触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置

　□ 可移动的显示控制终端，方便天平使用

　□ *可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁

　□ 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备

　□ 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

　□ 具有基础称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

　□ e-LoaderⅡ软件，实现天平软件的即时更新

XS分析天平（超越系列）型号及主要参数：

型号	可读性	zui大称量值
XS105DU	0.01mg/0.1mg	41g/120g
XS205DU	0.01mg/0.1mg	81g/220g
XS64	0.1mg	61g
XS104	0.1mg	120g
XS204	0.1mg	220g
XS204DR	0.1mg/1mg	81g/220g

关键词：传感器

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