IGBT-HAST试验箱 高加速老化测试机，HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性，这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、...

半导体芯片HAST测试高加速老化测试机，HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性，这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度...

HAST测试机Burn-in Chamber老化测试试验箱，HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性，这是通过在高度受控的压力容器内...

高加速老化HAST箱HAST测试机Burn-in Oven，HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性，这是通过在高度受控的压力容器内...

HAST高加速寿命试验箱，HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性，这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条...

CAF测试系统 HAST高加速寿命试验箱，CAF是指印制线路板内部在电场作用下跨越非金属基材而迁移传输的导电性金属盐构成的电化学迁移。它通常发生在印制线路板基材...

PCB离子迁移测试 试验箱，PCB离子迁移，简称CAF。离子迁移是指在印刷电路板等产品上，由于离子化金属向相反电极移动，在相对电极还原成原来的金属并有析出的现象...

导通电阻测试系统 HAST试验箱，导通电阻测试系统可与zonglen HAST高加速老化试验箱配合使用，主要用于产品导通电阻性能验证。更好的保证您PCB检测的精...

HAST高加速应力试验系统加速高温高湿偏压，HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性，这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、...

绝缘电阻劣化评估系统 HAST试验箱，绝缘电阻劣化（离子迁移）测试系统搭配HAST高加速老化试验箱，可高精度连续监测，快捷评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻...