键合拉力测试仪半导体推力机 返回列表页

元器件推拉力测试是为了评估电子元器件连接可靠性和耐久性的测试方法。它考虑了外部力对连接件的影响，并遵循相关的标准和要求，以确保元器件在各种应力下的稳定性和性能。这项测试在各个领域的电子设备应用中很重要。通过对元器件进行推拉力测试，可以验证电子元器件连接的可靠性和耐久性，以确保其在实际应用中不会出现断裂、松动或故障等问题，从而提高设备的性能和可靠性。这项测试对于保证电子设备的长期稳定运行具有重要意义。键合拉力测试仪半导体推力机

半导体推力测试仪是一种应用于航空、航天等领域的*测试仪器。它可用于测试各种推进系统在推力、推力变化、推力稳定性等方面的表现情况。键合拉力测试仪半导体推力机

　　半导体推力测试仪亦可称之为大面积推拉力试验机，可进行拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、压陷硬度、低周疲劳等各项物理力学试验。还能自动求取大试验力、断裂力、屈服HRb、抗拉强度、弯曲强度，弹性模量、伸长率、定伸长应力、定应力伸长、定应压缩等，故广泛应用于半导体封装、LED封装、智慧卡封装、通讯电子、汽车电子产业及各类研究所、大专院校、电子电路失分析与测试等领域。

产品特点：

1.采用精密动态传感采集技术，确保测试数据的精度的真实性。

2.三轴运动平台，双摇杆控制机器操作简单快捷。

3.采用3D立体传感技术，自动测试功能保证测试精度及数据准确性。

4.只需手动更换相对应的测试头即可实现推力及拉力测试功能。

产品参数：

设备型号：LB-8000D

测试精度：±0.25%

测试范围：推力0-5000克（可根据客户，配置不同传感器）

工作方式：推针及拉针180度垂直与测试产品接触，确保数据的准确性

外型尺寸：长：500mm宽：550mm高：440mm

传感器更换方式：手动

操作系统：控制系统+Windows操作界面

平台夹具：机台可共用各种夹具，夹具可360度旋转

X轴行程：75mm

X轴分辨率：±0.002mm

Y轴行程：75mm

Y轴分辨率：±0.002mm

Z轴行程：75mm

乙轴分辨率：±0.001mm

重量：35kg

功率：300W(MAX)

电源：220V±5%