半导体推力测试仪是微电子和电子制造领域的重要仪器设备，它在测试精度、重复性、可靠性、操控性和外观设计等方面，均达到高的水平。主要是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器。芯片封装测试设备多功能推拉力测试机
该设备广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件，其动态特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的动态性能具有重要的实际意义。用于测试小型卫星的推力系统。它可以测量有效推力、推力稳定性和推力变化率等关键参数。芯片封装测试设备多功能推拉力测试机
芯片推拉力测试机具有智能工位自动更换系统，减少手工更换模块的繁琐性，同时更好提升了测试的效率及便捷性。能对芯片、半导体、金线、金球、焊线、铝线、导线、电线、铜线以及其他线束等进行各种推拉力测试，广泛应用于器械加工、航天航空、电子元件、电器封装、研究所、实验室等领域。
LB-8600多功能推拉力测试机广泛用于LED封装测试，IC半导体封装测试、TO封装测试，IGBT功率模块封装测试，光电子元器件封装测试，汽车领域，航天航空领域，产品测试，研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。
设备功能介绍：
1.设备整体结构采用五轴定位控制系统，X 轴和 Y 轴行程 100mm，Z 轴行程 100mm，结合人体学的设计，保护措施，左右霍尔摇杆控制 XYZ 平台的自由移动，让操作更加简单、方便并更加人性化。
2.可达 200KG 的坚固机身设计、Y 轴测试力值 100KG，Z 轴测试力值 20KG。
3.智能工位自动更换系统，减少手工更换模块的繁琐性，同时更好提升了测试的效率及便捷性。
4.高精密的动态传感结合的力学算法，使各传感器适应不同环境的精密测试并确保测试精度的准确性。
5.LED 智能灯光控制系统，当设备空闲状况下，照明灯光自动熄灭，人员操作时，LED 照明灯开启 。
设备软件：
1.中英文软件界面，三级操作权限，各级操作权限可自由设定。
2.力值单位 Kg、g、N 可根据测试需要进行选择。
3.软件可实时输出测试结果的直方图、力值曲线，测试数据实时保存与导出功能，测试数据并可实时连接 MES
系统。
4.软件可设置标准值并直接输出测试结果并自动对测试结果进行判定。
5.SPC 数据导出自带当前导出数据值、最小值、平均值及 CPK 计算。传感器精度: 传感器精度 0.003%;综合测试精度 0.25%。
测试精度: 测试传感器量程自动切换。
多点位线性精度校正，并用标准砝码进行重复性测试，保证传感器测试数据准确性。
软件参数设置: 根据各级权限可对合格力值、剪切高度、测试速度等参数进行调节。
测试平台: 真空 360 度自由旋转测试平台，适应于各种材料测试需求，只需要更换相应的治具或压板，即可轻松实现多种材料的测试需求。
测试参数:
设备型号: LB-8600
外形尺寸: 660mm*610mm*800mm(含左右操作手柄）
设备重量: 约 95KG
电源供应: 110V/220V@3.0A 50/60Hz
气压供应: 4.5-6Bar
控制电脑: 联想/惠普原装 PC
电脑系统: Windows7/Windows10 正版系统
显微镜: 标配高清连续变倍显微镜（可选配三目显微镜+高清 CCD 相机）
传感器更换方式: 自动更换（在软件选择测试项目后，相应传感器自动至测试工位）
平台治具: 360 度旋转，平台可共用各种测试治具
XY 轴丝杆有效行程: 100mm*100mm 配真空平台可拓展至 200mm*200mm，测试力 100KG
XY 轴移动速度: 采用霍尔摇杆对 XY 轴自由控制，移动速度为 6mm/S
XY 轴丝杆精度: 重复精度±5um 分辩率≤0.125 ；2mm 以内精度±2um
Z 轴丝杆有效行程: 100mm 分辩率≤0.125um，测试力 20KG
Z 轴移动速度: 采用霍尔摇杆对 Z 轴自由控制，移动速度为 8mm/S
Z 轴丝杆精度: ±2um 剪切精度：2mm 以内精度±1um
传感器精度: 传感器精度±0.003%；综合测试精度±0.25%
设备治具: 根据样品或图纸按产品设计治具（出厂标配一套）
设备校正: 设备出厂标配相应校正治具及砝码一套
质量保证: 设备整机质保 2 年，软件升级（人为损坏不含）
